杭州電子科技大學(xué) 發(fā)布時(shí)間:2017/12/14 15:22:35 瀏覽次數(shù):1067 來源:弘翌檢測(cè)科技
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詳細(xì)介紹
GP/R系列步入式試驗(yàn)室適用于工業(yè)產(chǎn)品進(jìn)行濕熱試驗(yàn)、高溫試驗(yàn)、低溫試驗(yàn)以及高低溫漸變?cè)囼?yàn),具有極限溫(濕)度范圍廣、實(shí)際溫(濕)度精度高的特點(diǎn),步入式試驗(yàn)室,工作室大,可供多種元器件、整機(jī)做溫度濕度試驗(yàn),也可以走進(jìn)試驗(yàn)室作為生產(chǎn)設(shè)備,工作室尺寸可由客戶自定義,符合“環(huán)境試驗(yàn)十倍條件”系列標(biāo)準(zhǔn)條件。
特點(diǎn)
新一代外觀設(shè)計(jì),箱體結(jié)構(gòu)、控制技術(shù)均做較大改進(jìn),安裝方便,技術(shù)指標(biāo)穩(wěn)定,運(yùn)行可靠,維護(hù)方便
超大觸摸屏搖表式操作,外觀更加簡(jiǎn)潔大方,操作更加容易
真空雙層玻璃:大視窗設(shè)計(jì),飛利浦高亮度照明,加熱無霧氣
記錄量大:SD卡儲(chǔ)存,USB輸出,電腦連接打印,大倉(cāng)有紙無紙記錄等選配
可靠性高:主要配件選配著名名牌專業(yè)廠商,保證提高整機(jī)可靠性
技術(shù)參數(shù)
執(zhí)行滿足標(biāo)準(zhǔn)及試驗(yàn)方法
GBT10586-2006濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB10592-2008高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件(溫度交變)
GB/T2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A:低溫(IEC60068-2-1:2007)
GB/T2423.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B:高溫(IEC60068-2-1:2007)
GB/T2423.3-2006電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Cab:恒定濕熱試驗(yàn)(IEC60068-2-78:2001)
GB/T2423.4-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Db:交變濕熱12h+12h循環(huán)(IEC60068-2-30:2005)
GB/T2423.9-2001電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Cb:設(shè)備用恒定濕熱(IEC60068-2-56)
GB/T2423.22-2002電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)N:溫度變化(IEC60068-2-14)
GJB150.3A-2009軍用裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第3部分:高溫試驗(yàn)
GJB150.4A-2009軍用裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第3部分:低溫試驗(yàn)
其他
使用環(huán)境溫度:+5~+35℃
安全:短路保護(hù)、缺水保護(hù),超溫保護(hù)、操作人員安全保護(hù)、試件保護(hù)
附件標(biāo)準(zhǔn)配置
照明燈:飛利浦
測(cè)試孔:Φ50mm、(Φ60mm、Φ100mm非標(biāo))
高溫膠塞:按要求
通訊:SD卡/USB/CF/以太網(wǎng),按儀表選配
關(guān)鍵詞 步入式高低溫試驗(yàn)室 步入式淋雨試驗(yàn)室 大型步入式試驗(yàn)室 步入式實(shí)驗(yàn)室 步入式環(huán)境實(shí)驗(yàn)室 步入式恒溫恒濕試驗(yàn)室 步入式高低溫試驗(yàn)箱室 步入式環(huán)境試驗(yàn)室 步入式低溫試驗(yàn)室 步入式恒溫試驗(yàn)室 步入式高溫試驗(yàn)室 步入式高低溫交變濕熱試驗(yàn)室 步入式老化試驗(yàn)室 大型步入式試驗(yàn)室上海 上海大型步入式試驗(yàn)室 步入式溫濕度試驗(yàn)室 步入式鹽霧試驗(yàn)室 步入式潮態(tài)試驗(yàn)室 步入式溫度試驗(yàn)室 博工步入式恒溫恒濕試驗(yàn)室 步入式試驗(yàn)箱 步入式恒溫恒濕實(shí)驗(yàn)室 步入式高低溫實(shí)驗(yàn)室 高溫老化房 老化房 |
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